產品詳情
CINDBEST CB-100| 精密I-V/C-V/RF微米級測試級定位器
0.7μm精度探針座特點/應用 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等 ◆ 適用于I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器 ◆ 高剛性結構，彈簧消隙X-Y-Z，穩定無間隙 ◆ 線性，無后座力移動，磁性吸附/真空吸附 ◆ 30度傾仰調節機構 ◆ 可搭配同軸/三軸探針夾具使用 ◆ 射頻測試能力直流到40GHz~120GHz ◆ 瑞士制造精密牙具 0.7μm精度探針座 詳細資料請電話咨詢 |  |
規格尺寸：
CB-100 | ||||
90（L）*130（W）*90mm（H） | ||||
Y-Z移動行程 | 調節精度 | 固定方式 | 重量 | 600G |
◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
◆ 結構模塊化設計，可無縫升級
◆ 探針臺可根據客戶要求定制。
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